CEB系列半微量电子分析天平集精密性、稳定性、多功能性和自动化于一体，能够满足严苛的实验室称量需求，其分辨力高达0.01 mg。这款天平采用先进的电磁力传感器，确保超高水平的测量精度，同时保持优雅紧凑的外观设计。为保护高性能称量模块的灵敏度，天平配备了可伸缩的显示终端，有效减少操作者带来的振动，从而确保测量结果的可靠性。
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SFA系列多功能电子分析天平集成了高精度电磁力传感器，具有卓越的灵敏度和稳定性，可实现0.1 mg的读数精度，响应迅速，测量一致性优异。该天平配备全透明防风罩，有效消除气流干扰；同时，其可伸缩的操作显示终端设计，最大程度降低了用户操作引起的振动。无论在何种严苛环境下，这款天平都能确保结果的重复性。
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FA系列和FA-C系列分析天平采用高精度电磁力平衡传感器，确保实验室级别的稳定性和可靠性。这些天平配备高对比度背光LCD显示屏，可在各种光照条件下清晰读取；同时，支持一键校准功能，无需用户干预即可持续保持计量精度。
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SJA系列多功能电子天平采用高精度电磁力传感器，兼具卓越的灵敏度与稳定性，可实现1 mg的读数精度，响应迅速，并确保工业级测量的一致性。其配备全封闭透明防风罩，有效消除气流干扰；同时，可伸缩的显示终端设计则能隔绝操作振动。这款天平专为实验室与生产环境中的高强度精密称量需求而打造。
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LC-JA系列精密天平集高精度、高稳定性、多功能性与自动化于一体，并配备触觉反馈按键，确保操作精准高效。这些天平采用全封闭式透明防风罩设计，既美观大方，又兼顾人体工学便利性，能够满足实验室质量分析的严格要求，同时兼具视觉优雅与实用易用性。
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